NextGen Best Paper Award der IPC APEX EXPO für Ben Rachinger

Symbolbild zum Artikel. Der Link öffnet das Bild in einer großen Anzeige.
Foto: FAU / faps

Im Rahmen der IPC APEX EXPO 2025 in Anaheim, Kalifornien wurde der Beitrag “Improving THT-AOI Image Classification through Federated Learning: A Study on Model Performance and Training Stability under Various Data Distributions” von Ben Rachinger, Nils Thielen, Sven Meier, ESI-Mitglied Prof. Dr.-Ing. Jörg Franke und Prof. Dr.-Ing. Florian Risch mit dem NextGen Best Paper Award ausgezeichnet.

Weitere Informationen finden Sie auf den Webseiten des FAPS.

Prof. Dr.-Ing. Jörg Franke

Lehrstuhlinhaber

Department Maschinenbau (MB)
Lehrstuhl für Fertigungsautomatisierung und Produktionssystematik (FAPS, Prof. Franke)