NewsNeues Forschungsprojekt “X|CausePro” gestartet
Eine der größten Herausforderungen in der modernen Elektronikproduktion ist die steigende Komplexität von Fertigungsprozessen, insbesondere getrieben durch immer kleinere Dimensionen und zunehmende Funktionalitätsintegration. Zahlreiche Einflussparameter und deren Wechselwirkungen bestimmen die Produktqualität und werden durch konventionelle Methoden immer schwerer beherrschbar. Klassische Machine Learning-Ansätze, die auf reiner Mustererkennung und Korrelation basieren, stoßen hier an ihre Grenzen, wenn […]Eine der größten Herausforderungen in der modernen Elektronikproduktion ist die steigende Komplexität von Fertigungsprozessen, insbesondere getrieben durch immer kleinere Dimensionen und zunehmende Funktionalitätsintegration. Zahlreiche Einflussparameter und deren Wechselwirkungen bestimmen die Produktqualität und werden durch konventionelle Methoden immer schwerer beherrschbar. Klassische Machine Learning-Ansätze, die auf reiner Mustererkennung und Korrelation basieren, stoßen hier an ihre Grenzen, wenn […]
