Neues Forschungsprojekt „Automatische optische Inspektion von Crimpverbindungen mittels Deep Learning-Auswertung zur holistischen und intelligenten Qualitätsüberwachung“ (OptiCrimp) startet am FAPS

Aktuelle Trends und Herausforderungen in der Kabel- und Kontaktverarbeitung erfordern die Entwicklung einer intelligenten und holistischen Qualitätskontrolle von Crimpverbindungen. Ziel des AiF-ZIM geförderten Projekts OptiCrimp ist die Entwicklung eines automatischen …

Rückblick 13. Embedded Talk

Wir blicken zurück auf die 13. Ausgabe unseres Veranstaltungsformats „Embedded Talk“ im Fraunhofer IIS am Nürnberger Nordostpark statt. Thema des Tages war „Drahtlose Kommunikation und Sensorik für die Industrie 4.0“. …